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| 超細粉體粒度細度檢測之顆粒圖像處理儀 |
| 發(fā)布者：admin 發(fā)布時間：2022/2/26 8:31:31 點擊：6365 |
| 超細粉體檢測的方法已經(jīng)給大家介紹過超細粉體粒度細度檢測之激光衍射散射法（激光粒度分析儀）檢測方法和超細粉體粒度細度檢測之離心沉降法，今天無錫臣力粉體設備有限公司給大家介紹第三種檢測方法顆粒圖像處理儀。 顆粒圖像處理儀式由光學顯微鏡、CCD攝像機、圖像捕捉卡和計算機組成。 性能特點： 1、除了可以檢測粒度之外還可以進行一般的形貌特征分析。 2、所得測量結(jié)果直觀可靠，既可以直接測量粒度分布，又可以作為其他粒度儀器測試可靠性的評判參考儀器。 顆粒圖像處理儀主要的缺點為： 1、操作手續(xù)比較繁瑣，測量時間長，易受人為因素的影響。 2、取樣量較少，代表性不強，適合測試粒度分布范圍比較窄的樣品。 無錫臣力粉體設備有限公司專業(yè)生產(chǎn)粉體混合、球磨設備，歡迎各地客戶到我公司實地考察選購。 |
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